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半導(dǎo)體元器件失效分析檢測(cè)采用光學(xué)傳感器、紅外線探測(cè)器或顯微鏡等技術(shù)，通過(guò)觀察和分析半導(dǎo)體元器件表面的光學(xué)特征，來(lái)識(shí)別缺陷、污染或結(jié)構(gòu)問(wèn)題。

集成電路工程化量產(chǎn)測(cè)試,元器件失效分析：集成電路工程化量產(chǎn)測(cè)試。集成電路測(cè)試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)，貫穿設(shè)計(jì)、制造、封裝測(cè)試以及應(yīng)用的全過(guò)程。

超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測(cè)試失效分析：超?規(guī)模集成電路測(cè)試是確定或評(píng)估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過(guò)程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)?的重要?段。

裝備定壽延壽失效分析專(zhuān)業(yè)檢測(cè)：廣電計(jì)量采用特定專(zhuān)業(yè)的檢測(cè)設(shè)備，采用加速試驗(yàn)、?品分析、歷史數(shù)據(jù)收集等方式方法，輔以產(chǎn)品失效分析，即時(shí)發(fā)現(xiàn)貯存失效機(jī)理，并基于科學(xué)的概率數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論，計(jì)算出產(chǎn)品的可靠性特征參數(shù)和壽命特征值分布曲線，確定裝備貯存壽命。

DPA破壞性物理元器件失效分析：廣電計(jì)量提供覆蓋被動(dòng)元件、分立器件和集成電路在內(nèi)的元器件破壞性物理分析(DPA)服務(wù)，其中針對(duì)先進(jìn)半導(dǎo)體?藝，具備覆蓋7nm以下芯片DPA分析能?，將問(wèn)題鎖定在具體芯片層或者μm范圍內(nèi)，針對(duì)有水汽控制要求的宇航級(jí)空封器件，提供PPM級(jí)內(nèi)部水汽成分分析，保證空封元器件特殊使用要求。

電纜可靠性測(cè)試與鑒定,設(shè)備專(zhuān)業(yè)失效分析：廣電計(jì)量在電線電纜測(cè)試與鑒定方面具有深厚的積累，可提供電線電纜的一站式測(cè)試與鑒定服務(wù)。

電源模塊老煉與測(cè)試驗(yàn)證轉(zhuǎn)裝備失效分析：廣電計(jì)量電源模塊老煉與測(cè)試驗(yàn)證適應(yīng)于交直流電源、模塊電源、醫(yī)療電源等各類(lèi)電源產(chǎn)品的測(cè)試。電源模塊老煉試驗(yàn)通過(guò)對(duì)電源模塊施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力，在短時(shí)間內(nèi)讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象，以達(dá)到提高電源模塊使用可靠性的目的。

電子元器件篩選,失效分析：廣電計(jì)量可滿(mǎn)足各等級(jí)元器件篩選方案設(shè)計(jì)和檢測(cè)需求，提供電子元器件測(cè)試、評(píng)估、質(zhì)量保證的成套方案，幫助企業(yè)及時(shí)發(fā)現(xiàn)和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件，提高電子元器件的使用可靠性，保障和支撐電子裝備可靠性提升。